X射線衍射儀是根據布拉格衍射原理，通過晶體對X射線的衍射，獲得樣品內部原子的排列信息。可以對金屬固體、粉末或薄膜等樣品進行物相的定性和定量分析、晶格參數的測定、微觀應力分析，還能對晶粒尺寸、薄膜厚度、點陣畸變等方麵研究。X射線衍射儀是科學研究和工業生產中*的重要儀器，在化學、化工、材料、地質、冶金等領域有著廣泛的應用。

　　

　　X射線衍射儀主要應用於樣品的物相定性或定量分析、晶體結構分析、材料的結構宏觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等，根據實際需要可以安裝各種特殊功能的附件及相應控製和計算機軟件，組成具有特殊功能的衍射儀。

　　

　　X射線衍射儀可實現無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結構的表征,如:點陣常數的精密測定,晶粒尺寸和微觀應變計算,宏觀殘餘應力測定,結晶度計算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結構表征zui常規和zui有效的方法之一

　　

　　X射線衍射儀特點：

　　

　　●硬件係統和軟件係統的結合，滿足不同應用領域學者、科研者的需要；

　　

　　●高精度的衍射角度測量係統，獲取更準確的測量結果；

　　

　　●高穩定性的X射線發生器控製係統，得到更穩定的重複測量精度；

　　

　　●程序化探作、一體化結構設計，操作簡便、儀器外型更美觀。

　　

　　X射線衍射儀應用範圍：

　　

　　物相定性、定量；材料結晶度測定；點陣參數測定；納米材料微結構（晶粒尺寸、微觀應力）測定；介孔材料小角衍射；掠入射衍射。